1. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
پدیدآورنده : Sachdev, Manoj.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
2. IDDQ testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
3. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
پدیدآورنده : sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
4. Integrated circuit manufacturability
پدیدآورنده : edited by Josae Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)
موضوع : Integrated circuits, Computer-aided design,Metal oxide semiconductors, Complementary, Computer-aided design,Integrated circuits, Testing
رده :
TK
,
7874
,.
I4713
5. Microelectronic test structures for CMOS technolog
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary, Testing,Electronic books., local
رده :
TK7871
.
99
.
M44
,
B48
2011
6. Microelectronic test structures for CMOS technology
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary ; Testing. ;
7. Microelectronic test structures for CMOS technology
پدیدآورنده : / Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده :
TK7871
.
99
.
M44B49
2011